意法半導體推出內置機器學習內核的高精度測斜儀

日期 : 2020-08-26

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意法半導體的IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的雙軸數位測斜儀,用於工業自動化和結構健康監測[1]等應用,具有可設置的機器學習內核和16個獨立的可設置有限狀態機,有助於邊緣設備節能省電,減少向雲端傳輸的資料量。

 

不僅內置先進的嵌入式功能,IIS2ICLX還能夠降低系統功耗,延長電池供電節點的續航時間。該感測器固有特性可簡化與高性能產品的集成,同時最大程度地減少感測器校準工作量和成本。

 

IIS2ICLX測斜儀採用MEMS加速度計技術,±0.5 /±1 /±2 /±3g滿量程可選,並通過I2C或SPI數位介面輸出資料。嵌入式補償單元使溫漂保持在0.075mg/°C以內,即使環境溫度發生劇烈波動,感測器的測量精度和重複性也非常出色。15μg/√Hz的超低雜訊密度可實現高解析度傾角監測,以及結構健康監測所需的低聲壓的低頻振動度測量。

 

IIS2ICLX具有高穩定性和可重複性、高精度和高解析度的優點,特別適合工業應用,例如天線指向監測、雲台調平、叉車和建築機械、調平儀器、設備安裝監測、以及太陽能板安裝和光線跟蹤,以及工業4.0應用,例如,機器人和自動駕駛汽車(AGV)。

 

在結構健康監測中,IIS2ICLX可以準確地測量傾斜度和振動,幫助評估人員分析高樓等高聳建築物和橋樑或隧道等基礎設施的結構完整性。與採用早期的較昂貴的探測技術的結構健康監測感測器相比,價格適中的電池供電的基於IIS2ICLX的MEMS傾斜感測器能夠對更多結構進行安全監測。

 

許多高精度測斜儀是單軸測量設備,而2軸IIS2ICLX加速度計卻可以檢測兩個坐標軸與水平面的傾斜角(俯仰角和翻轉角),或者將兩個坐標軸合併成單軸,測量物體與水平面單一方向的傾斜角,可重複測量精度和解析度更高,可測量±180°範圍內的傾角。數位輸出可以節省外部數模轉換或濾波器件,簡化系統設計,降低物料清單(BOM)成本。

 

為了簡化IIS2ICLX的開發設計,加快應用開發週期,意法半導體還提供了專門的感測器校準和傾斜角即時計算軟體庫,這些軟體庫屬於STM32CubeX-CUBE-MEMS1擴展套裝軟體。

 

IIS2ICLX採用5mm x 5mm x 1.7mm的高性能陶瓷腔LGA封裝,工作溫度範圍-40°C至+105°C 。現在可提供樣片。該產品現已投入量產。

 

詳情訪問www.st.com//iis2iclx-pr

 

[1] 結構健康監測:利用感測器技術連續篩查道路、橋樑、隧道等建築工程和基礎設施的結構健康狀況。