【前言】 在現代工業的各種應用中，經常使用帶有功率元器件(MOFET、IGBT…) 當作輸出的驅動電路，其中最常見、也最容易造成問題的不外乎就是會上、下交替導通的拓樸—可以是全橋也可以是半橋。 這樣的拓樸在上下交替導通的期間，可能會因為各種延遲的關係而產生極為短暫的短路現象，輕則損耗變高、元件發熱、