英飞凌推出分离式 CoolSiC™ MOSFET 模组化评估平台 适用于测试各种驱动选项

日期 : 2020-05-25
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英飞凌 CoolSiC™ MOSFET

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双脉冲测试是设计人员要了解功率装置切换特性的标准程序。为方便测试1200 V CoolSiC™ MOSFET采用 TO247 3 针脚和 4 针脚封装的驱动选项,英飞凌科技股份有限公司推出模组化评估平台,其核心包含一个主板与可互换的驱动器卡板,驱动器选项包括米勒钳制和双极供电卡;其他版本将于近期内推出。该产品系列有助于推动碳化硅成为主流,缩短多种应用的上市时程。

SiC_Eval_Motherboard

 

评估平台的主板分为一次侧和二次侧两个区块。一次侧含 12 V 供电及脉冲宽度调变 (PWM);二次侧为驱动器的第二供电来源,以及包含用于测量驱动器卡板采用 EiceDRIVER™ 系列的驱动器 IC,适合 SiC 功率装置的高频切换,可提供两种驱动器选项的参考设计。第一个模组化驱动器卡板内含 1EDC Compact 1EDC20I12MH,整合主动米勒钳制,启动电压通常低于 2 V。第二个驱动器卡板内含 1EDC Compact 1EDC60H12AH,可提供双极供电,VCC2 为 +15 V,GND2 为负电压。本产品系列新添这两款驱动器卡板后,将涵盖设计人员在设计 SiC MOSFET 驱动时偏好使用的绝大多数选项。

供货情形
模组化评估平台的三项元件 – 主板、米勒钳制及双极驱动器卡板已开放订购。本产品系列将在 2020 年夏季再添一款用于侦测短路的驱动器卡板。此外,今年下半年也预计推出用于 SMD 封装测试的驱动器卡板。欲了解更多详细资讯,请浏览 www.infineon.com/tools