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同样是3.3V 的端口,为何需要使用不同的防护器件,具体如何选型? -
高速、低速和浪涌防护,防护器件选型时需注意什么?
随着各种便携式,可穿戴式概念的普及,电子设备正朝着轻薄短小化发展,而其板间的各种芯片也在经历着小线宽,低功耗方向的升级。在我们迎接芯片升级给我们带来的美好同时,孰不知危险悄然来临。小线宽芯片意味着在同等静电条件下比大线宽的更容易损坏,而低压低功耗又意味着在同等的电磁环境下,它所受到干扰或损坏的概率大大提升。基于此,Semtech率先完成了低压保护器件的产业布局和升级,解决了业内在系统级电路保护上的头等难题。今天给大家介绍的系列产品是我们在低压应用中最常用的3.3V TVS。
TVS发展趋势
ESD的钳位电压
大家都知道,在ESD测试中,TVS作为过压保护器件,它最关键的参数就是ESD钳位电压,钳位电压的大小直接关系到后级芯片安全与否。TVS的ESD钳位主要有两个关键指标,1ns和30ns的残压。1ns的尖峰残压会对芯片造成累积击穿,使得芯片性能下降甚至是失效,且在测试中不易被发现;而30ns的残压代表着ESD的平均能量,它对于芯片内部造成的冲击会更大。所以我们在设计选型的时候一定要仔细对比这2个关键点。
在这里我们对比了Semtech三代产品和业内某一市占率较高的3.3V TVS,从中我们就能发现,它们之间的残压会有很大的不同,所以保护效果也会有很大的区别。总的来说,ESD钳位电压的意义在于,要小于被保护芯片最大承受的电压,且留有一定的余量,这样的TVS才是一个好的TVS。而当我们不知道芯片的承压数据时,选择在同一ESD等级下1ns和30ns残压更低的TVS保护效果会更好。那是否有办法去量化ESD的测试呢?
ESD的平均能量——TLP比较
使用传统的静电枪设备做ESD测试或系统ESD方案评估时,很难做到量化测试的要求。基于此,我们可以采用先进的TLP设备,即ESD的平均能量的模型,来做到量化ESD测试的目的。对比静电枪,TLP可以精确捕捉到芯片的破坏点和TVS在不同ESD能量下的钳位电压。TLP与IEC标准之间有一个简单的对应关系,即每2A的TLP电流对应1KV的静电枪能量。所以我们只要知道了芯片的破坏点在哪里,再按照我们产品的标准,选择一款在此标准条件下,钳位电压低于芯片破坏点电压的TVS,系统就能顺利通过产品的标准测试。
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我们通过对3.3V TVS的分析,了解到在不同应用或测试要求下,我们需要用到不同类型的TVS来对系统做防护。
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高速应用需优先考虑高速信号的完整性。
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不管对于ESD测试还是浪涌测试来说,残压满足要求的TVS,对于系统来说才是一个好的TVS。
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TLP设备能真正意义上帮我们做到量化ESD测试。
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