ZTS6831S 與 ZTS6872S 兩款 MEMS 麥克風的比較表,涵蓋關鍵規格與特性,及設計使用建議 (二)

關鍵字 :MEMS MICZILLTEK語音

設計挑戰實例解析

 

1. 機構干涉與聲孔對位(Top Port)

 

情境:在筆記型電腦或智慧音箱中使用 Top Port 麥克風,外殼需開孔對準麥克風聲孔。

挑戰:

•    外殼孔位若偏移 0.2 mm,就可能導致聲音入射角改變,產生頻率響應偏移。

•    若孔徑太小,會形成聲學阻抗,導致高頻衰減。

•    若孔徑太大,則可能導致防水網無法密封,影響防塵防水性能。

建議:

•    使用 聲音模擬聲波穿透外殼孔的頻率響應。

•    設計防水網時考慮其聲學透過率與阻抗匹配。

 

2. PCB 鑽孔聲學共振(Bottom Port)

 

情境:在耳機或穿戴裝置中使用 Bottom Port 麥克風,聲音需穿過 PCB 鑽孔。

挑戰:

•    PCB 鑽孔若深度與直徑不當,會形成 Helmholtz 共振腔,導致某些頻率被放大或衰減。

•    鑽孔周圍若有焊錫或阻焊層堆積,會改變聲學路徑,造成非線性失真。

•    若孔道與外殼導音管不對齊,會產生反射與干擾。

建議:

•    建立 3D 聲學模型,模擬孔道與導音管的耦合效應。

•    在 PCB 設計階段就納入聲孔位置與尺寸的 DFM(Design for Manufacturability)規範。

 

3. EMI 與地線設計(Bottom Port)

 

情境:在高密度模組中使用 Bottom Port 麥克風,周圍有高速數位訊號線。

挑戰:

•    麥克風下方若無完整地平面,可能導致 EMI 穿透麥克風模組,產生雜訊。

•    PDM 訊號線若與其他高速線路平行過長,可能產生串音干擾。

•    若電源去耦電容位置不當,會造成電源噪聲耦合進麥克風。

建議:

•    在 Layout 中設計完整地平面並加強接地。

•    使用差分走線並保持等長,減少訊號不平衡。

•    電源濾波器與去耦電容靠近麥克風電源腳位放置。

 

4. 聲學一致性與量產偏差(Top/Bottom Port 共通)

 

情境:在量產階段,發現同批麥克風模組聲學表現不一致。

挑戰:

•    防水網貼合不均,造成聲學阻抗差異。

•    麥克風模組與外殼之間的氣密性不一致,導致頻率響應偏移。

•    PCB 鑽孔製程誤差導致聲孔尺寸偏差。

建議:

•    建立聲學量測流程,使用標準化聲源進行頻率掃描。

•    在模組設計中加入聲學補償結構,如導音槽或吸音材料。

•    與製程工程師協作,優化孔位鑽孔精度與防水網貼合工藝。

 

在 MEMS 麥克風模組設計中,「rubber」通常指的是聲學結構中的橡膠墊圈、隔音環或防水密封件。這些元件在 Top Port 與 Bottom Port 的設計中扮演不同角色,影響聲音導入、環境隔離與機構整合。

 

以下是針對 rubber 設計的差異與挑戰分析:

 

Rubber 設計差異:Top Port vs Bottom Port

 

實際設計挑戰舉例

 

1. 聲學阻抗不匹配(Top Port)

 

情境:Rubber 密封圈厚度過大,導致聲音進入麥克風前產生反射與衰減。

挑戰:

•    高頻響應下降,語音清晰度受影響。

•    量產時厚度誤差造成聲學一致性差。

建議:

•    使用 Shore A 30–50 的軟性材料,並進行聲學模擬驗證。

•    控制厚度在 ±0.05 mm 以內,並設計定位結構防止偏移。

 

2. PCB 導音孔漏音(Bottom Port)

 

情境:Rubber 未能完全密封 PCB 鑽孔與外殼導音管,導致漏音與環境噪聲滲入。

挑戰:

•    防水失效,無法達到 IP 等級。

•    聲音路徑不穩定,造成頻率響應波動。

建議:

•    設計雙層 Rubber 結構,內層密封、外層導音。

•    使用 COMSOL 模擬導音管與 Rubber 接觸界面,優化形狀與壓合力。

 

3. 組裝偏差與壓合力控制

 

情境:Rubber 在模組組裝時受力不均,導致變形或偏移。

挑戰:

•    聲孔偏移導致聲音入射角改變。

•    防水網與 Rubber 接觸不良,影響密封性。

建議:

•    設計定位柱或導向槽,確保組裝一致性。

•    控制壓合力在 5–10 N 範圍內,避免過度壓縮 Rubber。

 

Q/A

 

Q1. 針對 Top Port 麥克風的設計,機構干涉與聲孔對位方面會面臨哪些挑戰?

Ans1: 1.外殼孔位偏移 2.孔徑大小不當。

--------------------------------------------------------------------------------

Q2. Bottom Port 麥克風在 PCB 鑽孔設計上,可能遇到哪些聲學共振的挑戰?

Ans2: 當 Bottom Port 麥克風應用於耳機或穿戴裝置,聲音需穿過 PCB 鑽孔時,可能引發聲學共振問題。 主要挑戰包括:

1.Helmholtz 共振腔 2.聲學路徑改變3.反射與干擾。

--------------------------------------------------------------------------------

Q3: MEMS 麥克風模組在量產階段,若發現同批產品聲學表現不一致,可能源於哪些挑戰?

Ans2. 在 MEMS 麥克風模組的量產階段,聲學表現不一致是一個常見的挑戰,無論是 Top Port 或 Bottom Port 麥克風都可能遇到。 潛在的挑戰來源包括:

1.防水網貼合不均 2. 氣密性不一致 3.PCB 鑽孔製程誤差 4.Rubber 厚度誤差。

--------------------------------------------------------------------------------

Q4. 在 MEMS 麥克風模組設計中,「rubber」元件扮演著什麼角色?

Ans4. 在 MEMS 麥克風模組設計中,「rubber」通常指的是聲學結構中的橡膠墊圈、隔音環或防水密封件。這些元件在聲音導入、環境隔離與機構整合方面扮演著關鍵角色。

--------------------------------------------------------------------------------

Q5. 在高密度模組中使用 Bottom Port 麥克風時,EMI(電磁干擾)與地線設計會面臨哪些挑戰?

Ans5. 在高密度模組中,尤其當 Bottom Port 麥克風周圍有高速數位訊號線時,EMI 與地線設計是重要的考量。 主要挑戰包括:

1. EMI 穿透與雜訊 2. 串音干擾 3. 電源噪聲耦合 4. 完整地平面與接地5.  差分走線 6. 去耦電容 placement。

★博文內容均由個人提供,與平台無關,如有違法或侵權,請與網站管理員聯繫。

★博文作者未開放評論功能

參考來源

: