近日，英飛凌的磁傳感器產品線再添新成員，第三代3D霍爾感測器TLE493D-x3系列在經歷兩代產品的迭代之後應運而生。相較於前一代產品，主要有以下變化：
- 供電範圍擴展到5V並增加±50mT的量程範圍，從而可涵蓋更多應用場景。
- 精度更高，在靈敏度溫漂和零點溫漂以及各軸匹配度漂移方面性能有所提升；
- 系列中所有型號均具備睡眠喚醒功能。
- 明確符合功能安全ASIL-B等級要求，方便客戶構建ASIL-B以上等級的系統；
- 增加SPI介面的型號TLE493D-P3I8，該型號的工作溫度可達150℃。
該系列產品的型號如下：
兩種測量模式：
- 低功耗模式：晶片內部定時觸發測量，可配置為4種定時取樣頻率：16、31、125、1000Hz
- 主控模式：外部 MCU 對晶片測量進行觸發，最高採樣頻率可達 7kHz
兩種模式均可配置為如下三種採樣值的組合：
3軸磁場+溫度
X軸磁場+Y軸磁場
X軸或Z軸磁場+溫度
三種量程：
量程範圍（mT）
靈敏度典型值（LSB14/mT）
長量程：± 16029.5
短量程：± 10059
超短量程：± 50118
睡眠與喚醒功能：
- 睡眠功能指的是晶片被設定為低功耗模式時，如果晶片感應的磁場低於所設定的閾值，則晶片處於休眠狀態，並以所設定的頻率定時進行內部取樣，且不再回應來自MCU的通訊指令。
- 喚醒功能指的是在設定磁場閾值並啟用該喚醒功能後，一旦作用於晶片的磁場超過閾值，INTN腳位會輸出低電平觸發脈衝，可用於喚醒SBC或者MCU。X、Y、Z任意一個軸的閾值被超過就會觸發脈衝。如果各軸的閾值保持在重置時的初始值且未進行修改，則表示該軸的睡眠喚醒功能未啟用；如果所有軸的閾值均保持重置初始值，則晶片會一直保持在喚醒狀態，持續向外發出脈衝。
檢驗功能
除了支援上面提到的三種取樣值組合外，晶片還提供三種自我檢測功能，以滿足使用者的診斷需求：
- 各軸霍爾偏置電壓檢測及供電電源檢測。這項功能主要是檢驗施加在Hall盤上的偏置電壓是否符合規範，數據手冊中不僅規定了初始值的合規範圍，同時也規定了全生命周期的漂移範圍。
- 調整功能及內部電源檢測。這項功能主要是檢驗hall和ADC的零點旋轉校調功能以及片內穩壓電路是否仍然正常運作。同樣地，資料手冊也規定了其初始值和漂移值的範圍。
- SAT測驗。以上兩種自檢功能主要側重於對晶片內類比電路的自檢，而SAT檢測主要是針對晶片內數位電路的測試，透過設定相關控制位，檢驗晶片的輸出值是否與參考值相同。
溫度補償演算法
數據手冊提供了三階溫度補償算法，使用者可以根據以下公式，透過獲得的Bx、By、Bz及溫度初始值計算出補償值，從而進一步消除溫漂對精度造成的影響。
TLE493Dx3進一步補充了現有的英飛凌磁傳感器產品系列，充分考量了用戶在功能安全方面的需求，是頂柱模組撥桿位置、換檔位置以及搖桿位置檢測等應用場景的最佳選擇。英飛凌透過持續的技術迭代，不斷為市場和用戶提供最具性價比的產品。
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