在無線通訊設備的測試過程中，校準（Calibration）與 EVM（誤差向量幅度）驗證是不可或缺的環節。本文將以測試樹（Test Tree）為基礎，深入探討TxEVM_Power測試的設計邏輯與頻點選擇策略，並說明如何在生產環境中有效縮短測試時間，提升效率。
測試樹的基本結構與執行流程
測試樹的執行步驟主要包括以下幾個階段：
1. Initialize_tester：初始化測試儀器。
2. 2G_Tests、5G_Tests、6G_Tests：分別針對不同頻段進行測試。
3. Unload_DUT：卸載被測設備（DUT）。
4. Disconnect_tester：斷開測試儀器。
在進一步展開測試樹的Tests層級時，可以看到以下主要測試步驟：
- LoadDUT：載入被測設備。
- Xtal Calibration：晶振校準。
- NF Calibration：噪聲指數校準。
- RxGain Calibration：接收增益校準。
- TPC Calibration：功率控制校準。
- TxEVM_Power：發射功率與EVM測試。
- RxPER：接收封包錯誤率測試。
其中，TxEVM_Power是本文的重點，該測試層級包含多層迴圈，主要執行以下步驟：
1. SetUpTxDetails2：設定發射功率細節。
2. TxWlanMeasurementQueryChannels：查詢測試儀器接收到的狀態。
頻點與速率的選擇邏輯
2.4GHz 頻段
2.4GHz頻段僅支持BW20與BW40，頻道範圍為1至14。為了覆蓋最大頻譜，測試頻點選擇如下：
- BW20：選擇低、中、高三個頻道（1、6、11），以及第14頻道。
- BW40：選擇中心頻率為3與9的頻道。
這樣的設計能以最少的測試點覆蓋最大頻譜範圍。同時，速率選擇僅測試MCS0（最低速的BPSK調制）與MCS11（最高速的1024QAM調制），以達到用最少測試點覆蓋最大速率的目的。
5GHz 頻段
5GHz頻段支持BW80與BW160，其中心頻率選擇如下：
- BW80：5210、5775、5530。
- BW160：5250、5570。
這些頻點的選擇基於覆蓋最廣頻譜的原則，並考量硬體性能與測試效率。
6GHz 頻段
6GHz頻段的頻帶範圍更寬，測試頻點選擇為：
- 低頻：6225。
- 中頻：6665。
- 高頻：6945。
此外，額外增加BW320的頻點6105，主要是為了確保該頻帶的品質。至於為何不選6425或6745，原因在於硬體調適時低頻表現相對較弱，因此選擇6105作為測試點。
測試樹設計的核心原則
測試樹的設計以工廠生產為導向，目標是縮短測試時間與降低生產成本。例如：
- TPC Calibration：採用單點校準（One Point Calibration）以節省時間。
- TxEVM_Power頻點選擇：以最少的測試點覆蓋最大頻譜與速率範圍。
這些策略在確保測試品質的同時，最大化生產效率。
結論
本文簡要說明了測試樹中TxEVM_Power測試的頻點選擇邏輯，並探討如何在生產環境中平衡測試覆蓋率與效率。希望這些設計原則能為相關工程師提供參考，進一步優化測試流程。
Q&A
1. 5G 不需要測試 BW20 和 BW40 嗎？
Ans：理論上，若 BW80 和 BW160 測試無問題，則 BW20 和 BW40 也不會有問題。然而，在 DVT 階段仍建議增加 BW20 和 BW40 測試，以全面了解 RF 性能。
2. TPC Calibration 什麼時候需要使用全點校準（All Point Calibration）？
Ans：在 MP（量產）之前的 EVT、DVT 和 Pilot Run 階段，建議使用全點校準方式，以確保硬體性能達標。
3. 6GHz 頻段只測試 3 或 4 個頻點夠嗎？
Ans：6GHz 頻段範圍廣，僅測試 3 或 4 個頻點顯然不足。在 DVT 階段可增加更多測試點，而在 MP 階段則可逐步減少以節省時間。
4. 可以直接使用高通提供的測試樹嗎？
Ans：高通提供的測試樹適用於 MP 階段，設計較為精簡。在硬體設計達標的情況下，可直接使用，但在早期階段（如 DVT）建議根據需求進行調整。
5. 為什麼 6GHz 頻段的 BW320 測試選擇 6105 而非 6425 或 6745？
Ans：硬體調適時，低頻表現通常較弱，因此選擇 6105 作為測試點，以確保該頻帶的品質。