一、硬體 & 軟體環境概述
- 硬體平台：E3110 開發板；
- 軟體環境：IAR Embedded Workbench for ARM 9.30.1；
- 軟體平台：MCAL PTG3.0；
- 軟體工具：23.1201；
- 調試器：JLINK、LA3503。
- Efuse內容：公鑰Hash、DID、DebugKey、開啟 SecureDebug。
圖1 E3110 官方開發板
二、概述
當設備燒寫相關 Secure Debug Efuse 後，再次上電系統啟動安全調試，直接通過普通腳本，這時已經不能進行調試，需要通過安全調試腳本及正確的安全調試密碼，進行安全驗證之後，才能進行設備調試，這樣可以有效地保護系統，防止非法手段通過調試口對系統進行攻擊，從而使系統更安全。
本文假設 E3110 開發板已正常燒寫 Efuse，斷電重啟，撥碼開關撥到 0000，板卡可以正常啟動，如下圖；Efuse 燒寫方式、燒寫內容參考之前的博文《SemiDrive E3 Secure Debug 理論及驗證》。
三、JTAG Secure Debug 解鎖
為了更好的說明解鎖成功，本文先使用官方例程自帶的例程進行 attach 功能，是否能正常實現 attach 功能呢？
- 打開官方例程 0.0\MCAL_release\iar\iar_v850\E3_ref_176_E3110，工程右擊 Options，確認下圖中的加載腳本；
- 將 E3110 開發板的撥碼開關撥到 0000，斷電重啟，確定板卡程序正常運行，點擊 Project -> Attach to Running Target，IAR 顯示一直處於連接狀態，且硬體狀態是重複復位，關閉硬體電源後，提示如下圖，提示 JTAG 鏈接失敗；
- 點擊停止Debug如下圖
- 使用E3 secure debug V1.0.pdf 腳本2，進行 attach 功能呢，可以正常的點擊停止、全速運行按鍵，證明解鎖成功。
- 打開Trace32 Start 軟體；
- 設置CPU類型
- 加載 attach 指令
- 加載完 attach 指令後，直接點擊enter鍵，系統顯示 Running，界面上可以列印出板卡晶片的 UID，證明 LA3503 解鎖成功；
- 加載elf文件（需要與板卡中燒錄的bin文件對應，否則會出現斷點停留位置異常）
- 點擊View -> List Source，代碼調試區如下，可正常的調試，證明解鎖完成：
五、參考文檔
《E3110_MCU_TRM_Rev00.13》
《E3110_MCU_Datasheet_Rev00.17》
《E3 secure debug V1.0》
《SDToolBox_User_Guide》
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