Buck 電路基本量測 (二) Discrete MOS (1)

Discrete MOS類別

1.  Single MOS：單一MOS元件 (ex. AONS36333、AONS36337)
2.  Dual MOS：包含兩顆MOS (ex. AONY36304)
3.  Bottom Source：包含兩顆MOS，源極位於元件底部 (ex. AONX36322)

Discrete MOS測試要求

一般來說Discrete MOS需要測試MOS的單體波型，比較重要的測試項目如下：

• Deadtime：兩顆MOS共同關閉的時間。
• Glitch：L/S關閉，H/S開啟時，L/S被寄生電容帶起來的電壓。
• VDS：H/S、L/S的VDS電壓。

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Q1、Discrete MOS的類別？

A1： Single MOS、Dual MOS和Bottom Source。

Q2、Dual MOS和Bottom Source的差別？

A2：Dual MOS常用於高速開關的應用；Bottom Source由於散熱效率良好，多用於高功率應用。

Q3、為何要測量Deadtime波形？

A3： Buck電路經由兩顆MOS交換開關來達成降壓需求，Deadtime是確保兩顆MOS不會同時開啟，以免造成電路短路。

Q4、Deadtime和Glitch是量哪裡的訊號？

A4： MOS的Gate和Source端壓差。

Q5、為何要測量Glitch？

A5：L/S關閉後，H/S打開時，L/S VGS會被H/S內部的寄生電容帶起來的突刺，若超過L/S的開機電壓，便會與H/S同開，有短路的風險。