東芝電子元件及儲存裝置株式會社(“東芝”)推出了採用第三代碳化矽(SiC)MOSFET和SBD晶片的斬波器SiC MOSFET模組“MG800FXF1ZMS3[1]”和“MG800FZF1JMS3[2]”,額定電壓為3300 V和800 A工業設備,並擴大了其產品陣容。
圖片來源出處:東芝半導體https://toshiba.semicon-storage.com/tw/company/news/new-products-share/transistor/mosfet-20231206-1d.html
新產品MG800FXF1ZMS3和MG800FXF1JMS3採用iXPLV[3]封裝,採用Ag燒結內鍵結技術,安裝相容性高。 這些元件具有低導通損耗和1.3V(典型值)[4] 的低漏源導通電壓(感應),並且還具有低開關損耗和230 mJ(典型值)[5] 的低導通開關損耗。關斷開關損耗低至 230 mJ(典型值)[5]。 這些有助於減少設備的功率損耗和冷卻裝置的尺寸。東芝 iXPLV 封裝 MOSFET 模組陣容共有三款產品,包括現有產品 MG800FXF2YMS3(3300 V / 800 A / 雙 SiC MOSFET 模組)。這提供了廣泛的產品選擇。這可用於 2 電平逆變器、降壓/升壓轉換器和 3 電平逆變器。
東芝將持續滿足市場對工業設備高效率和小型化的需求。
備註:
[1] High-side: SiC MOSFET, Low-side: SiC SBD
[2] High-side: SiC SBD, Low-side: SiC MOSFET
[3] iXPLV:智慧柔性封裝低電壓
[4] 測試條件: ID=800 A, VGS=+20 V, Tch=25 °C
[5] 測試條件: VDD=1800 V, ID=800 A, Tch=175 °C
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新產品MG800FXF1ZMS3和MG800FXF1JMS3採用iXPLV[3]封裝,採用Ag燒結內鍵結技術,安裝相容性高。 這些元件具有低導通損耗和1.3V(典型值)[4] 的低漏源導通電壓(感應),並且還具有低開關損耗和230 mJ(典型值)[5] 的低導通開關損耗。關斷開關損耗低至 230 mJ(典型值)[5]。 這些有助於減少設備的功率損耗和冷卻裝置的尺寸。東芝 iXPLV 封裝 MOSFET 模組陣容共有三款產品,包括現有產品 MG800FXF2YMS3(3300 V / 800 A / 雙 SiC MOSFET 模組)。這提供了廣泛的產品選擇。這可用於 2 電平逆變器、降壓/升壓轉換器和 3 電平逆變器。
東芝將持續滿足市場對工業設備高效率和小型化的需求。
備註:
[1] High-side: SiC MOSFET, Low-side: SiC SBD
[2] High-side: SiC SBD, Low-side: SiC MOSFET
[3] iXPLV:智慧柔性封裝低電壓
[4] 測試條件: ID=800 A, VGS=+20 V, Tch=25 °C
[5] 測試條件: VDD=1800 V, ID=800 A, Tch=175 °C
應用
工業設備
- 鐵路車輛變頻器和轉換器
- 再生能源發電系統
- 工業設備等馬達控制設備
特性
- 低漏源導通電壓(感應):
VDS(on)sense=1.3V(典型值)(ID=800A,VGS=+20V,Tch=25°C)
Eon=230 mJ(典型值)(VDD=1800 V,ID=800 A,Tch=175 °C)
Eoff=230 mJ(典型值)(VDD=1800 V,ID=800 A,Tch=175 °C )
主要規格
(Tc=25°C,除非另有說明)圖片來源出處:東芝半導體https://toshiba.semicon-storage.com/tw/company/news/new-products-share/transistor/mosfet-20231206-1d.html
內部電路
圖片來源出處:東芝半導體https://toshiba.semicon-storage.com/tw/company/news/new-products-share/transistor/mosfet-20231206-1d.html
應用線路範例
圖片來源出處:東芝半導體https://toshiba.semicon-storage.com/tw/company/news/new-products-share/transistor/mosfet-20231206-1d.html備註:
本文檔中所示的應用電路僅供參考。
需要徹底的評估,特別是在量產設計階段。
提供這些應用電路範例並不授予任何工業產權許可。
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* 本文檔中的信息,包括產品價格和規格、服務內容和聯繫信息,均為發布之日的最新信息,但如有更改,恕不另行通知。
參考來源