Toshiba 於工業設備應用的2200V雙碳化矽MOSFET模塊

碳化矽MOSFET寄生體二極體具有極小的反向恢復時間trr和反向恢復電荷Qrr。對於相同額定電流為900V的器件,碳化矽MOSFET寄生二極體的反向電荷僅為相同電壓規格的矽基MOSFET的5%。對於橋式電路,可以減小體二極體的死區時間和反向恢復帶來的損耗和噪聲,便於改進。開關工作頻率。碳化矽MOS具高頻高效,高耐壓,高可靠性,可以實現節能降耗,小體積,低重量,高功率密度。相對應於傳統MOSFET以及IGBT有以下優點:

1 高工作頻率:可以減小電源系統中電容以及電感或變壓器的體積,降低電源成本,讓電源實現小型化,美觀化。從而實現電源的升級換代。

2 低導通阻抗:碳化矽MOSFET單管最小內阻可以達到15毫歐,輕鬆達到能效要求,減少散熱片使用,降低電源體積和重量,電源溫度更低,可靠性更高。

3 耐壓高: 一般MOSFET耐壓900V,IGBT常見耐壓1200V

4 耐溫高:碳化矽MOSFET晶片結溫高,可靠性和穩定性大大高於傳統MOSFET

三電平電路每個橋臂由4個IGBT/MOS和6個二極體構成。三電平電路在拓撲結構上相對更為複雜,相對於傳統二電平逆變電路輸出高、低兩個電平,電路可以通過上、下管的開通輸出高、低電平,通過中間二極體的鉗位作用輸出零電平,總共三個電平狀態,因此被成為三電平電路。

當上橋臂的兩管導通,每管承受的應力平台電壓為V/2

當下橋臂的兩個管導通,每管承受的應力平台電壓為V/2

三電平可以降低開關頻率,較少開關損耗,可選用耐壓等級較低的功率元件,但缺點為元件數多,成本高,控制電路較複雜

二電平電路,工作方式是180°導通方式,每次換相都是在同一相上下兩個橋臂之間進行的。它們交替導通。在換流瞬間,為了防止同一相上下兩臂的主管同時導通而引起直流電源的短路,通常採用“先斷後通”的方法,即先給應關斷的管關斷信號,待其關斷後留一定時間裕量,然後再給應導通的管開通信號,兩者之間留一個短暫的死區時間。可以看出二電平,如果需要承受更高的電壓,就需要選用耐壓等級更高的功率元件,因此耐壓高SIC MOS的元件就成為首選。

『東芝推出2200V雙碳化矽(SiC)MOSFET模塊—MG250YD2YMS3。 新模塊採用東芝第3代SiC MOSFET晶片,其漏極電流(DC)額定值為250A,適用於光伏發電系統和儲能系統等使用DC 1500V的應用。類似上述的工業應用通常使用DC 1000V或更低功率,其功率器件多為1200V或1700V產品。

然而,預計未來幾年內DC 1500V將得到廣泛應用,因此東芝發布了業界首款2200V產品。MG250YD2YMS3具有低導通損耗和0.7V(典型值)的低漏極-源極導通電壓(傳感器)。此外,它還具有較低的開通和關斷損耗,分別為14mJ(典型值)和11mJ(典型值),與典型的矽(Si)IGBT相比降低了約90%。這些特性均有助於提高設備效率。由於MG250YD2YMS3可實現較低的開關損耗,用戶可採用模塊數量更少的兩電平電路取代傳統的三電平電路,有助於設備的小型化。』

(作者:東芝;出處:https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.html )

MG250YD2YMS3 規格書


應用

工業設備
  • 可再生能源發電系統(光伏發電系統等)
  • 儲能系統
  • 工業設備用電機控制設備
  • 高頻DC-DC轉換器等設備


特性 
  • 低漏極-源極導通電壓(傳感器):
    VDS(on)sense=0.7V(典型值)(ID=250A、VGS=+20V、Tch=25℃)
  • 低開通損耗:
    Eon=14mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)
  • 低關斷損耗:
    Eoff=11mJ(典型值)(VDD=1100V、ID=250A、Tch=150℃)
  • 低寄生電感:
    LsPN=12nH(典型值)


主要規格

 

資料來源: 東芝(https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/08/sic-power-devices-20230829-1.html)

參考電路時序圖 I 

Inductive Load Switching Test Circuit(High side Switching)


Inductive Load Switching Test Circuit(Low side Switching)



Timing Chart(MOSFET part)



參考電路時序圖 II


Inductive Load Reverse Recovery Test Circuit(High side Switching)



Inductive Load Reverse Recovery Test Circuit(Low side Switching)



Timing Chart(Diode part)



資料來源: 東芝(https://toshiba-semicon-storage.com/info/MG250YD2YMS3_datasheet_en_20230726.pdf?did=153423&prodName=MG250YD2YMS3)

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參考來源

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