納芯微驅動晶片NSD1624,有效解決高壓、高頻系統中SW pin負壓和高dv/dt!

關鍵字 :NOVOENSENSD1624
NSD1624是納芯微最新推出的非隔離高壓半橋驅動晶片,驅動電流高達+4/-6A,可用於驅動MOSFET/IGBT等各種功率器件。


如下圖NSD1624功能框圖所示,納芯微創新地將隔離技術方案應用於高壓半橋驅動中,使得高壓輸出側可以承受高達1200V的直流電壓,同時SW pin可以滿足高dv/dt和耐負壓尖峰的需求。可適用於各種高壓半橋、全橋、LLC電源拓撲上。

 NSD1624輸入邏輯可兼容TTL/CMOS,方便控制。高壓側和低壓側均具備獨立的供電欠壓保護功能(UVLO),能在10~20V電壓範圍內工作。此外,NSD1624可提供SOP14,SOP8,LGA 4*4mm多種封裝形式。


解決高壓、高頻系統中

SW pin負壓和高dv/dt的痛點


上圖一所示是半橋驅動IC非常典型的應用電路。在Q1、Q2管子開關過程中,SW 會產生一定程度的震盪,同時會有負壓產生,如上圖二所示。如果驅動IC SW pin 耐負壓能力比較低,就會導致IC損壞。

SW pin 產生震盪和負壓的原因是:當上管關閉時,由於負載呈感性,電流不能突變,電流便會從GND 通過下管的體二極體進行續流,如圖一的紅色箭頭方向所示。在真實電路中,該電流路徑上許多地方會存在寄生電感,如圖一的綠色電感。 

SW 的電壓 Usw=-Lss * (di/dt),通過公式可以看出,續流電流通過路徑中的寄生電感,會在SW上產生負壓。如果負載電流越大,開關頻率越高,即di/dt 大,同時電路中寄生電感越大,即Lss 值越大,則SW產生的震盪和負壓就會越大,就會越容易損壞驅動IC。

此外,開關頻率越大,SW產生的dv/dt就越大。如果選擇的驅動IC dv/dt 抗干擾能力不足,便會導致驅動IC內部邏輯錯誤,可能會使得驅動IC的HO 和 LO同時輸出高電平,使得上下管同時打開,造成短路,甚至燒壞管子。

納芯微創新地將隔離技術方案應用於NSD1624 高壓半橋IC中,很好解決了上述問題,即:SW pin負壓和高dv/dt的痛點。該創新技術,使得NSD1624 SW pin 電壓能夠承受高達±1200V,可以承受非常高的負壓;同時dV/dt抗干擾能力超過100kv/us。因而 NSD1624 非常適合高頻、高壓、高可靠性的應用場景,符合電源行業發展的趨勢。



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