問題描述：
該問題由某客戶提出，發生在 STM32F205VCT6 應用。據其工程師講述：為了實現產品的設計中使用 STM32 的 USB OTG 接口，作為其產品的一個通用 USB 接口來用。在其產品小批量試產後，發現 STM32 的 USB OTG 接口在其產品的使用過程中易損壞。
調研&查找：
使用 USB OTG 驅動庫的 DEMO 程序對晶片進行測試，發現其 USB OTG 接口在功能上的確已失效。測 量該晶片在復位狀下的工作電流，在 90mA 左右，明顯偏大。對該晶片做 FA 處理，結果表明該晶片的 USB OTG 接口已被 ESD 損壞。檢查硬體設計，發現該接口未做 ESD 保護。
如下圖，明顯可以看到晶圓上的壞點。
結論：
STM32 的引腳未做 ESD 保護，PCB走線直接引至機殼對外的USB插座上，插拔USB時，接觸人體從而發生 ESD 損壞。
處理：
PCB上增加 ESD 保護，推薦器件 EMIF02USB03F2，如下圖所示：
該問題由某客戶提出，發生在 STM32F205VCT6 應用。據其工程師講述：為了實現產品的設計中使用 STM32 的 USB OTG 接口，作為其產品的一個通用 USB 接口來用。在其產品小批量試產後，發現 STM32 的 USB OTG 接口在其產品的使用過程中易損壞。
調研&查找：
使用 USB OTG 驅動庫的 DEMO 程序對晶片進行測試，發現其 USB OTG 接口在功能上的確已失效。測 量該晶片在復位狀下的工作電流，在 90mA 左右，明顯偏大。對該晶片做 FA 處理，結果表明該晶片的 USB OTG 接口已被 ESD 損壞。檢查硬體設計，發現該接口未做 ESD 保護。
如下圖，明顯可以看到晶圓上的壞點。
結論：
STM32 的引腳未做 ESD 保護，PCB走線直接引至機殼對外的USB插座上，插拔USB時，接觸人體從而發生 ESD 損壞。
處理：
PCB上增加 ESD 保護，推薦器件 EMIF02USB03F2，如下圖所示：
原理分析：
在 STM32 的數據手冊中，給出的 ESD 相關數據如表（一）所示：
在人體模型下，最大放電電壓為 2000V；在機器模型下，最大放電電壓為 500V。這樣的防靜電能力， 使得 STM32 不適合在沒有防靜電措施的環境下，直接與帶靜電的物體接觸。也就決定了，在硬體設計 中，不可以在不加任何的防靜電保護的情況下，將 STM32 的管腳引至暴露在機殼之外的端子上。
ST 提供一系列的ESD ，EMI filter 等保護器件，可以直接通過下面官網連接訪問選型。
ESD Protection and EMI Filters - STMicroelectronics
註：以上圖文字&片來自 ST社區和ST官網，網址https://www.stmcu.com.cn/Designresource/list/STM32 MCU/LAT/LAT
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