關於PAH8011ES 的 INT1與INT2開短路測試實現方法

關鍵字 :PixArt 心率穿戴

PAH8011ES的 INT1與INT2短路測試與開路測試
實現方法如下：

1. INT1與INT2短路測試
因為INT1與INT2為相鄰PIN，有連錫短路風險，建議測試。
測試設定：
pah8011_verify_int_short_array
目前的此設定：INT1 拉高，INT2拉低。
測試流程：
調用pah_verify_INT_short（）函數，下完設定後，MCU檢查INT1狀態，
如果INT1與INT2短路，檢查INT1狀態會拉低
如果讀GPIO，INT1電平為1，INT2為0，則PASS
static const uint8_t pah8011_verify_int_short_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0E},//
{0x35, 0x3d},
{0x24, 0x01},//update flag
};

2.INT1&INT2開路測試
測試流程：MCU分別檢測INT1與INT2相應的GPIO是否都有拉到對的狀態。
註：由於目前的設定是INT1與INT2同時拉高與拉低；若INT1與INT2短路，且其中一個INT PIN有開路，單測這項仍沒有辦法確認，需要結合INT1&INT2短路測試

static const uint8_t pah8011_verify_int_pin_low_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0C},
{0x35, 0x3c},
{0x24, 0x01},//update flag
};
static const uint8_t pah8011_verify_int_pin_high_array[][2] = {
{0x7F, 0x04},//change to bank4
{0x15, 0x69},
{0x2B, 0xFF},
{0x34, 0x01},
{0x70, 0x08},
{0x7F, 0x01},//change to bank1
{0x36, 0x0C},//
{0x35, 0x3d},
{0x24, 0x01},//update flag
};

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