半導體測試設備的小幫手 - 東芝推出小型光繼電器,高速導通有助於縮短半導體測試設備的測試時間

東芝半導體推出採用S-VSON4T封裝的光繼電器——"TLP3476S", 其導通時間與東芝當前產品TLP3475S相比縮短了一半。

「作者:東芝半導體,出處:https://toshiba-semicon-storage.com/cn/company/news/news-topics/2023/05/isolators-solid-state-relays-20230525-1.html

與東芝當前的產品TLP3475S相比,TLP3476S運行速度更快、結構更緊湊。該產品通過提高紅外LED的光輸出並優化光電探測器件(光電二極體陣列)的設計,可實現高效的光耦合,也提高了運行速度,將導通時間最大值縮短至0.25ms,時間為TLP3475S的一半。

此外,由於採用了尺寸更小、外形更纖薄的S-VSON4T封裝(最大厚度為1.4mm),TLP3476S的厚度比當前產品減小了20%。這有助於減少需要多個電路板的設備的尺寸。

TLP3476S適用於繼電器數量多,並需要更短開關時間的半導體測試設備電路。

應用

  • 半導體測試設備(高速記憶體測試儀設備、高速邏輯測試儀設備等)
  • 探測卡
  • 測量設備

特性

  • 小型S-VSON4T封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=1.4mm(最大值)
  • 高速導通時間:tON=0.25ms(最大值)

主要規格


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